Alford, T. L., Feldman, L. C., & Mayer, J. W. (2007). Fundamentals of nanoscale film analysis. Springer.
Cita Chicago Style (17a ed.)Alford, Terry L., Leonard C. Feldman, y James W. Mayer. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. New York, N.Y. ; London: Springer, 2007.
Cita MLA (8a ed.)Alford, Terry L., et al. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Springer, 2007.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.