Nonlinear optical nanoscope with depth resolution

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Existing optical scanning microscopes don't allow the determination of the depth below the surface of the sample under which where scatterers might be located, due to the simple exponential decay of their evanescent probing field. We propose a nonlinear near field microscope which would allow t...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mochán, W.L
Otros Autores: López-Bastidas, C., Maytorena, J.A, Mendoza, B.S, Brudny, Vera Leonor
Formato: Acta de conferencia Capítulo de libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: 2004
Acceso en línea:Registro en Scopus
DOI
Handle
Registro en la Biblioteca Digital
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Biblioteca Central Dr. Luis F. Leloir (FCEN) de Universidad de Buenos Aires

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