Muestreo: diseño y análisis /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Lohr, Sharon L.
Otros Autores: Palmas Velasco, Óscar Alfredo (Tr.)
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Español
Publicado: México: Thomson, 2000 .
Materias:
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Descripción
Descripción Física:xiii, 480 p. : il.; 24 cm.
Bibliografía:Incluye bibliografía: páginas 445-470 e índice: páginas 471-480
ISBN:9789706860170