X-ray microscopy and x-ray microanalysis
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier,
1960.
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| Aporte de: | Registro referencial: Solicitar el recurso aquí |
| Notas: | Proceedings of the secon international symposium, by...,V. Cosslett and H. Pattee |
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| Descripción Física: | x, 542 p. : il. ; 16 cm. |