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Muestreo por atributos

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Epstein, Barry Jay
Formato: Desconocido
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Prof. Eusebio Cleto del Rey - Facultad de Ciencias Económicas, Jurídicas y Sociales de Universidad Nacional de Salta
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Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares

  • Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /
    Publicado: (2009)
  • Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15-0.
    Publicado: (2009)
  • aSistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15-1 ISO 2859-1.
    Publicado: (2010)
  • Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 - 2. ISO 2859-2.
  • Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 -3; ISO 2859-3.
    Publicado: (2010)

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