Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables

Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dri, Emanuel, Peretti, Gabriela, Romero, Eduardo
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: 2024
Materias:
Mixed analog digital integrated circuits
Switched capacitor circuits
Trasientresponse analysis method
Second order filters
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11086/552348
Aporte de:
Repositorio Digital Universitario (UNC) de Universidad Nacional de Córdoba

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