Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único

Ponencia presentada en el XXIII Congreso de Métodos Numéricos y sus Aplicaciones. La Plata, Argentina, del 7 al 10 de noviembre de 2017.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Tais, Carlos Esteban, Peretti, Gabriela Marta, Romero, Eduardo Abel, Demarco, Gustavo Luis
Otros Autores: https://orcid.org/0000-0003-1489-7982
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: 2024
Materias:
Efectos de la radiación
Modelado de dispositivos de potencia
Termoelasticidad
Fallas
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11086/552651
Aporte de:
Repositorio Digital Universitario (UNC) de Universidad Nacional de Córdoba

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