Reconocimiento estadístico de patrones máquinas de soporte vectorial y series temporales

Este trabajo describe una línea de I/D y los resultados esperados de la misma. El objetivo principal es estudiar, desarrollar y evaluar sistemas de reconocimiento automático de patrones en modo supervisado y no supervisado. En modo supervisado el objetivo principal es optimizar la generalización del...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Giacomantone, Javier, Tarutina, Tatiana, Artola, Verónica, De Giusti, Armando Eduardo
Formato: Objeto de conferencia
Lenguaje:Español
Publicado: 2009
Materias:
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/19718
Aporte de:
Descripción
Sumario:Este trabajo describe una línea de I/D y los resultados esperados de la misma. El objetivo principal es estudiar, desarrollar y evaluar sistemas de reconocimiento automático de patrones en modo supervisado y no supervisado. En modo supervisado el objetivo principal es optimizar la generalización del clasificador. En particular son estudiados problemas caracterizados por medio de series temporales y clasificadores basados en máquinas de soporte vectorial (SVM). Los principales temas abordados son la selección de características, las técnicas de agrupamiento, el análisis de métricas y los métodos de optimización en SVM.