Diseño y metodologías de validación en sistemas microeléctrónicos tolerantes a fallas inducidas por radiación
El presente trabajo de investigación aborda la problemática del daño por radiación en disposi- tivos, ciruitos y sistemas microelectrónicos, situación que se presenta habitualmente cuando los mismos son utilizados en aplicaciones espaciales o nucleares. Durante el desarrollo de la tesis se propon...
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| Autor principal: | Sondón, Santiago M. |
|---|---|
| Otros Autores: | Mandolesi, Pablo Sergio |
| Formato: | tesis doctoral |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2014
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://repositoriodigital.uns.edu.ar/handle/123456789/452 |
| Aporte de: |
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