Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica

Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Balducci, Diego Mario Nicolás
Otros Autores:	Budini, Nicolás
Formato:	Tesis de maestría acceptedVersion SNRD
Lenguaje:	Español
Publicado:	2021
Materias:	Silicio cristalino Digital holographic microscopy Thin film coating Crystalline silicon Microscopía holográfica digital Recubrimiento de película delgada
Acceso en línea:	https://hdl.handle.net/11185/5798
Aporte de:	Biblioteca Virtual - Tesis (UNL) de Universidad Nacional del Litoral

Descripción
Sumario:	Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.

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