Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas.
En este proyecto se propone: 1- Formular y analizar los problemas actuales en las técnicas de inyección de fallas para estimar SER (Single Event Response) en los circuitos integrados, aplicandolas luego para evaluar la tolerancia a fallos de diferentes circuitos integrados analógicos/digitales. El o...
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| Autores principales: | Petrashin, Pablo Antonio, Toledo, Luis Eduardo, Vázquez, Carlos Daniel, Lancioni, Walter José |
|---|---|
| Formato: | proyecto_de_investigacion |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2014
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/238/1/PI_Petrishin.pdf |
| Aporte de: |
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