Medición de espesores delgados con ultrasonido
| Autores principales: | Gómez, Juan Carlos, Gwirc, Sergio, INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR, Congreso de Microelectrónica Aplicada |
|---|---|
| Formato: | conferenceObject |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
INTI-Electrónica e Informática
2010
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH0145/d655c516.dir/doc.pdf |
| Aporte de: |
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