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Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
Publicado 2012
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2
Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
Quinteros, C.P.
,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal, F.
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Institución
Universidad de Buenos Aires
2
Colecciones
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
2
Formato
JOUR
1
Autor
Campabadal, F.
1
Faigón, A.
1
Palumbo, F.
1
Quinteros, C.P.
1
Rafí, J.M.
1
Redin, E.
1
Salomone, L.S.
1
Zabala, M.
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