Measurement of the Critical Masking Interval

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Miyasaka, Eiichi
Formato:	Publicación periódica
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	Tokyo : NHK Science and Technical Research Laboratories, 1986.
Edición:	NHK
Colección:	NHK Laboratories Note, 334
Materias:	DISPLAY
Aporte de:	Registro referencial: Solicitar el recurso aquí Bibliotecas (ING-UNLP) de Universidad Nacional de La Plata


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