Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas

Bajo la premisa de que los circuitos de radiofrecuencia (RF) presentan una serie de desafíos particulares al momento de querer determinar su correcto funcionamiento, el presente proyecto propone implementar y validar experimentalmente estrategias de test para circuitos de RF, particularmente de ampl...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Castagnola, Juan Luis dir.
Formato: proyecto_de_investigacion
Lenguaje:Español
Publicado: 2019
Materias:
QC Física
T Tecnología (General)
TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
Acceso en línea:http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/1748/1/PI_Castagnola.pdf
Aporte de:
Producción Académica Universidad Católica de Córdoba (UCCor) de Universidad Católica de Córdoba
id I38-R144-1748
record_format dspace
spelling I38-R144-17482025-02-27T21:52:20Z http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/1748/ Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas Castagnola, Juan Luis dir. QC Física T Tecnología (General) TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear Bajo la premisa de que los circuitos de radiofrecuencia (RF) presentan una serie de desafíos particulares al momento de querer determinar su correcto funcionamiento, el presente proyecto propone implementar y validar experimentalmente estrategias de test para circuitos de RF, particularmente de amplificadores de bajo ruido (LNAs) en tecnologías de integración CMOS nanométricas. Para lograr este objetivo, se propone la adaptación de esquemas de test auto embebidos (BIST), exitosamente implementados sobre bloques analógicos en plataformas de SoCs, pero muy poco explorado para circuitos de RF. Esta estrategia debería permitir la detección de desviaciones en el comportamiento del circuito, no solo debido a las tolerancias propias del proceso de fabricación (test de producción), sino además, durante todo el ciclo de vida del producto en donde pueden presentarse fallas originadas por degradaciones progresivas debido al envejecimiento o distintos factores del entorno (por ejemplo: radiación). Esto es especialmente atractivo en aplicaciones críticas funcionando en ambientes hostiles. 2019-01-01 proyecto_de_investigacion info:eu-repo/semantics/closedAccess application/pdf spa http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/1748/1/PI_Castagnola.pdf Castagnola, Juan Luis dir. ORCID: https://orcid.org/0000-0002-0140-2074 <https://orcid.org/0000-0002-0140-2074> (2019) Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas. [Proyecto de investigación]
institution Universidad Católica de Córdoba
institution_str I-38
repository_str R-144
collection Producción Académica Universidad Católica de Córdoba (UCCor)
language Español
orig_language_str_mv spa
topic QC Física
T Tecnología (General)
TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
spellingShingle QC Física
T Tecnología (General)
TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
Castagnola, Juan Luis dir.
Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
topic_facet QC Física
T Tecnología (General)
TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
description Bajo la premisa de que los circuitos de radiofrecuencia (RF) presentan una serie de desafíos particulares al momento de querer determinar su correcto funcionamiento, el presente proyecto propone implementar y validar experimentalmente estrategias de test para circuitos de RF, particularmente de amplificadores de bajo ruido (LNAs) en tecnologías de integración CMOS nanométricas. Para lograr este objetivo, se propone la adaptación de esquemas de test auto embebidos (BIST), exitosamente implementados sobre bloques analógicos en plataformas de SoCs, pero muy poco explorado para circuitos de RF. Esta estrategia debería permitir la detección de desviaciones en el comportamiento del circuito, no solo debido a las tolerancias propias del proceso de fabricación (test de producción), sino además, durante todo el ciclo de vida del producto en donde pueden presentarse fallas originadas por degradaciones progresivas debido al envejecimiento o distintos factores del entorno (por ejemplo: radiación). Esto es especialmente atractivo en aplicaciones críticas funcionando en ambientes hostiles.
format proyecto_de_investigacion
author Castagnola, Juan Luis dir.
author_facet Castagnola, Juan Luis dir.
author_sort Castagnola, Juan Luis dir.
title Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
title_short Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
title_full Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
title_fullStr Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
title_full_unstemmed Estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
title_sort estrategias bist análogicas aplicadas a circuitos integrados de radiofrecuencia en tecnologías nanométricas
publishDate 2019
url http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/1748/1/PI_Castagnola.pdf
work_keys_str_mv AT castagnolajuanluisdir estrategiasbistanalogicasaplicadasacircuitosintegradosderadiofrecuenciaentecnologiasnanometricas
_version_ 1832592033838006272

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