Petrashin, P. A. d. (2019). Identificación de fallas en CI y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas con aplicación en detectores de radiación de bajo coste.
Cita Chicago Style (17a ed.)Petrashin, Pablo Antonio dir. Identificación De Fallas En CI Y Sistemas Tolerantes a Fallas En Tecnologías Nanométricas Con Aplicación En Detectores De Radiación De Bajo Coste. 2019.
Cita MLA (8a ed.)Petrashin, Pablo Antonio dir. Identificación De Fallas En CI Y Sistemas Tolerantes a Fallas En Tecnologías Nanométricas Con Aplicación En Detectores De Radiación De Bajo Coste. 2019.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.