Identificación de fallas en CI y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas con aplicación en detectores de radiación de bajo coste
Este proyecto es la continuación dentro de una línea de trabajo relacionada con el testing de Circuitos Integrados (CI) y sistemas robustos. Se han obtenido resultados en los proyectos previos acerca de técnicas para testear CI analógicos, con defectos por radiación [2-6]. En el área digital, se han...
| Autor principal: | Petrashin, Pablo Antonio dir. |
|---|---|
| Formato: | proyecto_de_investigacion |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2019
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/1750/1/PI_Petrashin.pdf |
| Aporte de: |
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