Application of the Berreman effect to the characterization of TiO2 thin layers formed onto titanium substrates

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Parodi, M. B., Rodríguez, L., Pazos, L., González Ruiz, J., Paz Ramos, A., Ybarra, G., INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires, AR, Centro Nacional de Investigaciones Científicas. La Habana, CU, Facultad de Química, Universidad de La Habana. La Habana, CU, International Congress on Metallurgy & Materials SAM/CONAMET 2011, 11
Formato: conferenceObject article
Lenguaje:Inglés
Publicado: Elsevier 2012
Materias:
Titanio
Dióxido de titanio
Películas delgadas
Recubrimientos superficiales
Espectroscopía
Espectros infrarrojos
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01be/932073aa.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
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INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires, AR
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