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Charge trapping/detrapping in HfO2-based MOS devices
Publicado 2011
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Charge trapping/detrapping in HfO2-based MOS devices
por
Salomone, L.S.
,
Carbonetto, S.H.
,
Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redín, E.G.
,
Campabadal, F.
,
Faigón, A.
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Institución
Universidad de Buenos Aires
2
Colecciones
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
2
Formato
CONF
1
Autor
Campabadal, F.
1
Carbonetto, S.H.
1
Faigón, A.
1
Inza, M.A.G.
1
Lipovetzky, J.
1
Redín, E.G.
1
Salomone, L.S.
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